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德律泰TRI
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TRI5001E
TRI5001E高測試涵蓋率之解決方案 MDA可升級至ICT與功能測試系統 人性化界面搭配快速又簡單的程式設計

最佳成本效益的測試策略

最新非多工式全新數位每個腳位1:1驅動/接收比的設計。

? 1:1 驅動 / 接收比的彈性可實現最佳化的植針配置。

? 處理ECN修改時,無須移動治具中的既有線路。

? 1:1 驅動 / 接收比提供最快速的測試程式發展及除錯。

業界最彈性的ICT+FCT解決方案。TR5001E可有效整合外部儀器做功能測試,如:PXI, Labview...等。


模擬測試

R L C 量測

? 六線式精密測量。

? 自動等電位隔離特性。

? AC相位量測。

TRI Enhanced TestJet 技術

可檢測各種SMT元件,如IC管腳、

接插件等的開路。

晶體管/ 二極管測試


數位測試

? 全數位在線測試儀

? 友好人機界面

? 在線燒錄軟件

? 邊界掃描技術

自動產生程式的測試功能

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無測點之解決方案

Drive Through 測試

當被動模擬元件與JTAG,邊界掃描元件或連接器串聯時,針對沒有測試點的特定線路,此測試方法可以大幅提高測試覆蓋率。

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邊界掃描測試

RAM, ROM, TTL及TREE 等元件的Virtual nails測試,以及IEEE1149.6的測試。

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TRI ToggleScan? 測試

強大的非向量測試技術,ToggleScan? 結合邊界掃描和TestJet技術來測試非邊界掃描元件,針對沒有測試點的特定線路,此測試方法可以大幅提高測試覆蓋率。

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Vreg Test?

不需要探針來測試PWM線路


TRI CPU Socket 測試

使用一個專門的非向量感應板與待測板上的邊界掃描元件連接,可以快速測試LGA CPU插座。


兩段式壓床

內置兩段式壓床方便做功能測試,節省治具成本。


現場監控系統支援

TR5001E 可以與許多現場監控系統進行整合來收集測試數據,幫助生產線集中化管理和提高生產品質。

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架構

最大可用通道(針點) 3200(模擬)/1600 (數位)

IBM相容電腦

操作系統 Microsoft Windows XP/ Windows 7

電力需求 90-130V/180-240V自動切換 50/60Hz.最大功率:1 kVA

工作氣壓 “4-8kg/cm,耗氣量:4 Liter/cycle

測試治真 壓床式

可測電路板尺寸

標準配備 (W) 420mm x (D) 300mm x (H) 100mm

選擇配備 (W) 500mm x (D) 350mm x (H) 130mm

更大尺寸機板可依需求訂做

模擬硬件

量測方式 六線式量測

可編程測試頻率 100 Hz, 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz, 1 MHz

可編程 DC 電壓源 0-±10V分辨率:6.1 mV

可編程 DC 電流源 0-100 mA,分辨率:0.2 mA

可編程AC電壓源 0-12 Vpp,分辨率:6.1 mV

可編程 DC 特高電壓源 43 V最大值,43 mA 最大值

元件測試能力

電阻 0.1 ohm - 40M ohm

電容 10 pF -40 mF

電感 10 μH -60 H

模擬量測

AC 電壓量測 0-100 V

DC 電壓量測 0-±100 V分辨率:2.5 mV -50 mV

DC 電流量測 1 μA- 100 mA,分辨率:30 nA - 30 μA


選配硬件

模擬測試

TestJet 技術 非向量式開路檢測

任意波形產生器(AWG) 頻率范圍0-100 kHz,分辨率:0.15 Hz

數位測試

每腳位全新數位 1:1 非多工式驅動/接收比設計

驅動腳位 可變級數 0.5 V - 3.8 V

接收腳位 可變級數 0V-5 V

拉高/拉低電阻 4.7 K

待測板電源 5 V/3 A.3.3 V/3 A, 12 V/3 A. 18 V/3 A.-12 V/1 A,24 V/3 A

可編程式DUT電源(Max Voltaae/Max current)  25 V/8 A, 75 V/2.5 A

支援快閃記憶體及EEPROM的在線燒錄

MAC位址燒錄 支援server提供MAC位址燒錄方式

邊界掃描 提供單顆、多顆、虛擬針點測試及IEEE 1149.6測試,滿足更多元的測試需求


ToggleScan測試

結合邊界掃描功能與非向量測試功能,可以檢測出無測試點之零件腳位開路或短路的技術

BGA Tree測試能力

可產生BGA/VLSIIC管腳開短路的測試模式


尺寸/重量

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強大軟件環境

微軟Windows作業系統 人性化使用界面

自動程式產生器

自動隔離測試

自動學習短路開路測試功能,IC Clamping Diode測試功能和 TestJet測試功能

被動元件自動除錯

內建自我診斷系統

的時旱二直二件或腳位位警


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